Автоматическая проходная камера MT9510XP

Автоматизированное тестирование микросхем в корпусах и на пластине.

Технические показатели:

• количество цифровых каналов тестирования - 256;
• максимальная частота - 500 МГц;
• память векторов - 64М;
• измерения микросхем в корпусах при температурах от -60 до +50С;
• измерения кристаллов в составе пластин при температурах до +150С.

Производительность комплекса при контроле изделий средней функциональной сложности - до 10000 штук в сутки при непрерывной работе.