Испытательный центр
Центр оснащен единственным в России измерительным комплексом, в состав которого входит тестер микросхем Teradyne Ultraflex, зондовый автомат Accretech UF200A/AL и автоматическая проходная камера Multitest MT9510XP, позволяющим проводить следующие операции:
Автоматизированное тестирование микросхем в корпусах и на пластине
- количество цифровых каналов тестирования - 256;
- максимальная частота - 500 МГц;
- память векторов - 64М;
- измерения микросхем в корпусах при температурах от -60 до +50С;
- измерения кристаллов в составе пластин при температурах до +150С;
- Диаметр обрабатываемых пластин 100, 125, 150, 200 мм;
- Степень автоматизации - полный автомат.
Производительность комплекса при контроле изделий средней функциональной сложности - до 10000 штук в сутки при непрерывной работе.
Оказываемые услуги:
- Контроль внешнего вида пластин.
- Надрезание пластин.
- Сквозное разделение пластин.
- Гидрообработка разделенных пластин.
- Плазменная очистка.
- Термовакуумная обработка.
- Термообработка в воздушной среде и контролируемой газовой среде.
- Присоединение кристаллов методами приклеивания и эвтектической пайки легкоплавким припоем.
- Присоединение кристаллов с объемными выводами методом перевернутого кристалла термокомпрессионной сваркой.
- Формирование соединений тонкой золотой проволокой методами «клин-клин» и «шарик-клин».
- Герметизация прямоугольных корпусов в инертной среде методом электроконтактной роликовой шовной сварки.
- Контроль герметичности масс-спектрометрическим методом.
- Вырубка выводной рамки.
- Рентгеновский контроль.
- Контроль наличия свободных частиц во внутреннем объеме акустическим методом.
- Контроль прочности сварных соединений на отрыв и сдвиг.
- Термоциклирование.
- Контроль электрических параметров кристаллов в составе пластин при нормальных условиях и повышенной температуре.
- Контроль электрических параметров микросхем при нормальных условиях и крайних значениях температуры.
Установка предназначена для контроля электрических и функциональных параметров микросхем.
Предназначена для контроля электрических и функциональных параметров кристаллов в составе пластин совместно с установкой тестирования.
Автоматизированное тестирование микросхем в корпусах и на пластине.