Cистема UltraFlex (Teradyne)

Установка предназначена для контроля электрических и функциональных параметров микросхем.

Описание

Система UltraFLEX предназначена для тестирования комплексных электронных устройств, таких как интегральные схемы (ИС).

Эти ИС могут представлять собой компьютерные процессоры, быстродействующие запоминающие устройства или устройства связи. В соответствующей конфигурации, система UltraFLEX может применяться для тестирования аналогово-цифровых устройств, известных как «system-on-a-chip» (SOC). Система UltraFLEX может использоваться в качестве независимого инструмента тестирования электронных устройств, например в технической лаборатории.

Система UltraFLEX обычно является частью тестовой установки, в которую также входит загрузчик (handler) или зонд (prober). Загрузчики используются для высокоскоростной подачи и извлечения корпусных ИС при промышленном тестировании. Зонды предназначены для быстрой подачи, тестирования и извлечения больших полупроводниковых пластин, состоящих из множества бескорпусных микросхем.

Назначение системы UltraFlex (количество выводов, частота)

Для контроля интегральных микросхем (ИМС) и кристаллов в составе полупроводниковой пластины с числом выводов до 256 и рабочей частотой последовательности функционального контроля до 500 МГц

Технические показатели:

Количество источников питания: 20.
Количество цифровых магистралей: 256.
Количество аналоговых генераторов: 2.

Производительность (зависит от сложности программы тестирования):

до 300 микросхем в час с применением автоматического сортировщика;
до 1000 кристаллов микросхем с применением автоматической зондовой установки.